半導體參數(shù)測量
天恒旗下產(chǎn)品，為客戶提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導體測試方案，并提供搭配其他測試設備。
半導體材料測試平臺
半導體工藝測試平臺
芯片設計測試平臺
芯片驗證測試平臺
半導體材料測試平臺包括：
針對晶元級半導體材料或半導體器件，搭配半導體參數(shù)分析儀，用于測試分離器件、材料的三大特性：
- 1、直流特性，如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等；
- 2、電容電壓特性CV曲線（CVU）；
- 3、脈沖特性測試(PMU)，支持超高速脈沖測試。支持以上特性的多通道同步測試。
針對高功率半導體材料或半導體器件，搭配高功率晶體管參數(shù)曲線圖示儀，或稱晶體管曲線追蹤儀，支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線、電容電壓特性CV曲線測試。
半導體工藝測試平臺包括：
針對大規(guī)模測試，如晶元上多點測試，復雜系統(tǒng)的自動化測試，搭配自動化半導體參數(shù)測試系統(tǒng)，支持各類晶元Wafer和MEMS的自動化、半自動化參數(shù)測試。廣泛用于晶元的失效分析測試（FA）,質量控制測試（QA），可靠性分析測試（RA）。
芯片設計測試平臺包括：
針對高速串行芯片設計，提供完整的發(fā)送端測試解決方案，配備高帶寬實時示波器、各種探頭、一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標準覆蓋各類常用標準，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。
芯片驗證測試平臺包括：
針對高速串行芯片設計，提供完整的接收端容限測試解決方案，配備高速誤碼率分析儀，及一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標準覆蓋各類常用標準。