贵阳吐痰信息技术有限公司
首頁
關(guān)于天恒
產(chǎn)品中心
探針臺
密閉高低溫探針臺
閉循環(huán)低溫探針臺
真空高低溫探針臺
大功率探針臺
射頻/微波探針臺
負載牽引微波探針臺
通用探針臺
鐳射分析探針臺
高溫探針臺
平板探針臺
小型探針臺
小型真空高低溫探針臺
探針臺配件
微定位底座
夾具電纜
探針
顯微鏡
工業(yè)相機
屏蔽箱
隔震臺
測量儀表
源表
示波器
信號源
半導體參數(shù)分析儀
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
光譜分析儀
阻抗分析儀
超快速脈沖IV測試模塊
測試軟件
集成系統(tǒng)
晶圓測試系統(tǒng)
功率器件測量系統(tǒng)
射頻微波測試系統(tǒng)
光電耦合測量系統(tǒng)
無掩膜直寫光刻系統(tǒng)
多功能二維材料轉(zhuǎn)移實驗平臺
光電測試平臺
解決方案
半導體參數(shù)測量
光電耦合測量
真空低溫測量
變溫環(huán)境測量
射頻/微波測量
高壓/大電流測量
服務(wù)支持
服務(wù)支持
下載中心
聯(lián)系我們
新聞資訊
公司新聞
行業(yè)資訊
技術(shù)知識
中文
EN
新聞資訊
NEWS & EVENT
常見的半導體晶圓(Wafer)量測方法
1.晶圓缺陷粒子檢測系統(tǒng)顆粒和缺陷:顆粒和缺陷導致晶圓表面不規(guī)則形貌。散射入射光:通過檢測散射光來監(jiān)測顆粒和缺陷。晶圓缺陷檢測系統(tǒng)可以通過獲取缺陷的(X,Y)坐標來檢測晶圓上的物理缺陷(顆粒)和圖案缺...
2024-05-27
半導體檢測設(shè)備在半導體產(chǎn)業(yè)中意義重大
由于晶圓生產(chǎn)附加值極高,因此半導體檢測設(shè)備在半導體產(chǎn)業(yè)中的地位日益凸顯。2020年,我國半導體檢測設(shè)備市場規(guī)模達到176億元。隨著我國半導體產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,我國......
2024-05-27
一文看懂半導體檢測和量測設(shè)備行業(yè)發(fā)展趨勢:國產(chǎn)化空間大
全球檢測和量測設(shè)備現(xiàn)狀1、市場規(guī)模全球半導體檢測和量測設(shè)備市場規(guī)模來看,隨著半導體下游消費電子和PC等需求2020-2021年市場回暖尤其是2021年明顯增長,......
2024-05-27
共2條
1